本發明提供了一種基于二階模式波的薄板結構超聲TOFD檢測盲區抑制方法,屬于無損檢測技術領域。該方法采用由超聲探傷儀、TOFD探頭、有機玻璃傾斜楔塊和掃查裝置組成的TOFD檢測檢測系統,沿待測薄板工件表面實施B掃查與信號采集,獲得不同掃查位置處的A掃描信號集合。利用費馬定理、斯涅爾定律與波型轉換原理求解不同掃查位置處的二階模式波最短傳播聲時與界面出射點位置,進而結合模擬退火算法確定晶片接收點與盲區內缺陷端點深度。與現有的可替代TOFD技術相比,該方法能夠有效抑制薄板結構檢測盲區并實現近表面缺陷深度定量,具有較高的工程應用價值。
聲明:
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