本發明公開了一種光學鏡片質量高精準檢測方法,屬于鏡片檢測技術領域,其技術方案要點是,包括初檢和復檢;初檢時判斷鏡片是否有疑似劃痕,若是,進入復檢,若否,完成檢測、得到表面無損鏡片;在進入復檢的鏡片表面刮抹帶色附著液;判斷鏡片是否有著色痕跡,若是,完成檢測、得到表面有損鏡片,若否,完成檢測、得到表面無損鏡片。該種光學鏡片質量高精準檢測方法能夠規避指紋以及灰塵對鏡片檢測的干擾,并且能對鏡片實現快速且準確的劃痕檢測,相較于傳統的檢測方法顯著提升了檢測效率。
聲明:
“光學鏡片質量高精準檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)