本發明涉及一種半導體激光器參數測試和可靠性分析的方法及裝置。該裝置主要由微機(1)、樣品箱(3)、數據采集板(4)、電流電壓轉換電路(7)、光電探測器(30)、電壓電流轉換電路(10)及信號源(11)和鎖相放大器(8)等構成。通過對器件(29)電導數曲線、熱阻、功率及變溫曲線等的測試,用測得的參數對器件進行可靠性分析。本發明具有微機化、自動化、加溫均勻、一次逐個檢測多個器件等特點,實現對器件可靠性無損、快速、簡便的檢測和分析。
聲明:
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