本發明所述微波交指結構無損檢測探頭,包括超小A型接頭、正面刻蝕有微波交指結構的印刷電路板,所述微波交指結構由上半交指和下半交指構成,上半交指和下半交指均由一個半圓弧形邊緣和若干向半圓弧內部延伸出的豎條形組成,上半交指和下半交指以半圓弧形相對的方式布置,兩個半圓邊緣上的豎條形在兩個半圓邊緣圍成的平面內交叉間隔分布,形成整體外形為圓形的微波交指結構,所述印刷電路板的背面刻蝕有正方形金屬銅層,超小A型接頭安裝在印刷電路板背面的金屬銅層上,其內導體與印刷電路板正面的其中一半交指連通,外導體焊接在金屬銅層上,與印刷電路板正面的另一半交指連通。該探頭同時具備操作簡單、功能完整、檢測精度高等優點。 1
聲明:
“微波交指結構無損檢測探頭” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)