本發明公開了一種光激勵紅外熱成像無損檢測方法、系統、存儲介質及終端,屬于光激勵紅外檢測技術領域,方法包括:基于L4范數建立對矩陣Y進行稀疏表示的優化目標函數,并通過交替迭代的方式求解優化目標函數,進而得到稀疏系數矩陣X;將稀疏系數矩陣X逆矩陣化,得到缺陷信息增強后的圖像序列。本發明基于L4范數建立對矩陣Y進行稀疏表示的優化目標函數,由于L4范數的特殊性質,使得基于L4范數的稀疏字典學習算法更易獲得與真實字典相近的字典,從而更好的恢復數據的稀疏表示,更好的提取弱缺陷信息,提高了缺陷檢測準確率。
聲明:
“光激勵紅外熱成像無損檢測方法、系統、存儲介質及終端” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)