一種基于FPGA的紅外熱波無損檢測裝置。傳統的探傷為模擬式,缺點為,缺陷顯示不直觀,探傷技術難度大,易受主、客觀條件影響,探傷結果不易保存。一種基于FPGA的紅外熱波無損檢測裝置,其組成包括:殼體,殼體(3)內部具有高速數據采集電路(5)、FPGA預處理電路(8)和ARM后處理電路(11),殼體內部還具有電源(6)和高壓生成器(4),高速數據采集電路與FPGA預處理電路電連接,FPGA預處理電路連接和ARM后處理電路電連接,電源為殼體內的全部電氣系統提供電能,高速數據采集電路和高壓生成器分別通過導線(2)連接位于殼體外部的探頭(1)。本實用新型申請應用于基于FPGA的紅外熱波無損檢測裝置。
聲明:
“基于FPGA的紅外熱波無損檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)