本發明提供的基于高光譜成像技術的蘋果內外品質的快速無損檢測方法,利用高光譜成像系統采集蘋果圖譜信息,分析蘋果光譜曲線的特征,并對光譜數據進行分析。然后,確定單波段圖像,對其進行二次閾值分割,提取相應區域,并提取相應區域的光譜曲線。針對病害、蟲害等蘋果外部特征,提出二次連續投影算法以提取特征波長集SP1;針對糖度、硬度等蘋果內部品質提出多參數連續投影算法以提取特征波長集SP2。最后融合反應蘋果內外品質的特征波長集SP1、SP2采用BP神經網絡實現對蘋果內外品質的快速、無損檢測。本發明操作簡單方便、檢測速度快、檢測結果精度高,而且對蘋果沒有損傷。
聲明:
“基于高光譜成像技術的蘋果內外品質快速無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)