本發明屬于無損檢測技術領域,具體為一種磁致伸縮導波無損檢測方法。本發明通過確定的數據長度和數據起始點,分別在無缺陷標樣信號和實際檢測信號中提取一組信號作為基準信號和檢測信號。方法一將檢測信號與基準信號進行差分得到一組信號,通過判斷信號是否畸變確定缺陷,根據缺陷處信號的峰峰值與構件截面積損失的線性關系,利用信號的峰峰值確定被測構件截面積的損失量。方法二將檢測信號的平方與基準信號的平方進行差分得到一組信號,通過判斷信號是否畸變確定缺陷。由于采用上述的信號處理方法,將信號中原來不可分辨的小缺陷信號處理成可輕易分辨出缺陷的信號,從而實現了原本無法檢測的小缺陷檢測,提高了檢測的精度。
聲明:
“磁致伸縮導波無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)