本發明公開了光學元件強激光損傷特性的無損檢測與評價方法,旨在解決現有技術不能通過無損檢測評價光學元件激光損傷特性的難題。本發明包括:通過實驗獲得光學元件的無損檢測數據以及強激光作用下發生損傷的激光參數;將無損檢測數據與損傷測試結果作為特征量,使用深度學習方法,根據無損檢測數據、激光參數及損傷測試結果,獲得光學元件激光損傷特性的檢測評價模型;將待檢測的光學元件進行無損檢測,將獲得的無損檢測數據和激光參數作為檢測評價模型的輸入量,從而獲得該光學元件的激光損傷特性檢測結果,實現強激光損傷特性的無損檢測與評價。
聲明:
“光學元件強激光損傷特性的無損檢測與評價方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)