本發明公開了一種中子無損檢測系統,屬于射線無損檢測領域。本系統包括一中子源、測試樣品放置裝置、成像裝置、圖像處理單元;所述中子源與所述成像裝置位于所述測試樣品放置裝置的同一側或所述測試樣品放置裝置相對的兩側;其中所述成像裝置包括光闌和熱中子位置靈敏探測器,所述光闌位于所述測試樣品放置裝置與所述熱中子位置靈敏探測器之間,所述熱中子位置靈敏探測器經數據線與所述圖像處理單元連接。與現有技術相比,本發明可以實現厚樣品高分辨率高反差靈敏度的無損檢測,成像系統位置靈活可調,能實現單次照射大范圍檢測,并且方便實際應用。
聲明:
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