本發明提供了一種金屬多晶體晶粒尺寸無損快速檢測的方法,屬于X射線檢測技術領域。本發明是利用二維X射線探測系統記錄相關多晶體晶面指數為不同{hkl}的各種衍射環,對衍射斑強度和強度的平均值進行統計,計算出金屬多晶體內不同晶粒尺寸的衍射強度級別與對應的衍射峰數目的分布關系,衍射斑強度的統計值I對應著晶粒尺寸的統計值G,根據G=a+k·I式的線性關系和具體材料回歸計算出的a和k常數,計算待測金屬多晶體的晶粒尺寸分布和平均晶粒尺寸。本方法解決了傳統晶粒尺寸檢測方法有損、費時、離線的問題,不僅可以實現無損、快速檢測,還可以轉化成工業生產所需的晶粒尺寸在線檢測新技術。
聲明:
“金屬多晶體晶粒尺寸無損快速檢測的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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