本公開提供了確定分子的基態特征的方法、設備及存儲介質,涉及數據處理領域,尤其涉及量子計算、量子化學領域。具體實現方案為:基于第一目標態的第一測量結果,得到目標分子的密度矩陣D(θ1);所述第一目標態是目標參數化量子線路U(θ)的可調參數向量為第一向量θ1的情況下作用到計算基態上所得;至少基于所述密度矩陣D(θ1),得到損失函數C(θ)的損失值C(θ1),所述損失函數C(θ)是對所述目標分子的哈密頓量中表征電子之間庫倫相關作用的表達式進行處理后所得,用于表征所述目標分子的總能量泛函;在所述損失函數的損失值C(θ1)滿足終止條件的情況下,基于所述密度矩陣D(θ1)計算得到所述目標分子的基態特征。這樣,有效提升了處理效率。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)