本發明公開了一種指紋圖譜相似度計算方法、裝置和樣品質量評價系統,其特征在于,所述方法包括:建立標準參考指紋圖譜;獲取待測樣品指紋圖譜;計算所述標準參考指紋圖譜和所述待測樣品指紋圖譜之間的相關系數R1;計算所述標準參考指紋圖譜和所述待測樣品指紋圖譜之間的差異相似系數R2;基于所述相關系數和差異相似系數計算綜合相似度。本發明的計算方法能夠從樣品的化學組成及含量差異兩個方面反映樣品的相似程度,并且適用于不同類型復雜樣品體系的需要。
聲明:
“指紋圖譜相似度計算方法、裝置和樣品質量評價系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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