本發明涉及輻照后掃描電鏡試樣制備技術領域,公開了一種基于導電屏蔽鑲嵌的輻照后鋯合金掃描電鏡試樣制備方法,包括如下步驟:步驟1、采用切割裝置對輻照后的鋯合金進行切割,獲得小尺寸的輻照后的鋯合金試樣;步驟2、采用加熱裝置對低熔點、高原子序數的混合金屬顆粒進行加熱,獲得液態的低熔點合金;步驟3、利用液態的低熔點合金對所述鋯合金試樣進行鑲嵌并冷凝;步驟4、對低熔點合金鑲嵌后的所述鋯合金試樣進行機械研磨和機械拋光,使所述鋯合金試樣呈鏡面光潔;步驟5、對機械拋光后的所述鋯合金試樣進行化學蝕刻再進行掃描電鏡分析,或直接進行掃描電鏡分析。本發明能夠簡單、高效的制備輻照后鋯合金掃描電鏡試樣。
聲明:
“基于導電屏蔽鑲嵌的輻照后鋯合金掃描電鏡試樣制備方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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