本發明公開了基于貝葉斯后驗概率模型的質譜數據庫搜索方法,包括以下步驟:測量標準物質的分子質量,得到測量誤差,進而計算其標準差;構建化學分子式數據庫;以該數據庫中各分子式的分子質量為均值,以測量誤差的標準差為標準差,建立正態分布函數;在設定的數據庫搜索誤差范圍內計算質譜測得質量數的上限和下限;設定先驗概率并計算;設定該分子式在數據庫中的頻率為第一頻率,根據先驗概率和第一頻率計算出第一概率;根據先驗概率、第一頻率和第一概率,計算所測物質的分子式是數據庫中所收錄某個分子式的后驗概率,得到搜索結果;本發明考慮儀器性能對搜索結果的影響,同時又對搜索結果從概率角度進行可能性分析,解決現有搜索方式的缺點。
聲明:
“基于貝葉斯后驗概率模型的質譜數據搜庫方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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