本發明公開一種基于電偶極旋轉散射光探測的納米微粒識別裝置和方法,依據納米微粒的散射模型,通過微粒懸浮操控和散射光探測分離的方法,實現光阱中的微粒形態的原位探測。具體為利用兩束線偏振激光,第一束激光懸浮納米微粒,并通過偏振方向調節旋轉納米微粒;第二束線偏振光偏振方向不變,激發特定偶極方向散射光;通過監測固定位置處第二束激光激發的散射光光強的變化推知納米微粒極化率的變化,進而實現粒子形態識別。本發明的方法可以為真空光鑷領域納米微粒的原位結構如單球、雙球等判定提供高效解決方案;同時對于生物化學以及材料應用領域中的納米微粒標定提供輔助方法。
聲明:
“基于電偶極旋轉散射光探測的納米微粒識別裝置和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)