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            > 用于絕緣體核材料中氧同位素的SIMS測量方法

            用于絕緣體核材料中氧同位素的SIMS測量方法

            836   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
            2023-03-19 07:23:22
            本發明為一種用于絕緣體核材料中氧同位素的SIMS測量方法,其過程為:將鈾氧化物微粒轉移到石墨碳片上,制備成樣品;對測量過程中需要用到的設備進行調試;測量鈾氧化物微粒的氧同位素,并計算18O/16O的比值;校正測量值并計算不確定度;更換標樣并卸載程序。這樣,不需要進行樣品的化學處理,可直接進行測量,使得分析速度更快、樣品制備簡單、樣品用量也更??;同時SIMS具有微區分析和深度剖析的能力,可對樣品的不同區域和不同深度的地方進行氧同位素的測量;SIMS通過接收O-進行測量,不需要轉化CO2氣體再測量,減少了中間環節,減少了最后結果不確定度的引入因素,能夠滿足核法證學關于快速、準確分析的特點。
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            “用于絕緣體核材料中氧同位素的SIMS測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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