本發明公開了一種用于物質精細拉曼光譜非接觸、快速檢測系統及檢測方法,所述系統包括用于測量的高光譜分辨率空間外差光譜儀和激光器,其中被測物體置于間隔設置的高光譜分辨率空間外差光譜儀和激光器之間,高光譜分辨率空間外差光譜儀外接計算機終端。所述方法包括如下步驟:1)仿真光譜;2)確定空間外差拉曼光譜儀;3)確定激光器的參數;4)探測。這種系統成本低、易于實現。這種方法不需對樣品進行處理,適合用來探測不易接觸的物質和適用于分析和檢測化學藥品。
聲明:
“用于物質精細拉曼光譜非接觸、快速檢測系統及檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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