用于將樣品曝露到高能輻射的緊湊、低功耗系統和方法,例如將樣品曝露到用于實現X射線吸收近邊緣分析(XANES)的X射線。該系統和方法包括一個低功耗的輻射源,例如一個X射線管;一個或多個用于對指向被分析樣品的輻射能量加以導向和改變的可調節晶體光學部件;以及一個用于探測由該樣品發射的輻射的輻射探測器件,例如一個X射線探測器。這一個或多個可調節晶體光學部件可以是雙重彎曲晶體光學部件。該系統的部件可以被排列在同一條直線上。所公開的系統和方法特別適用于XANES分析,例如生物過程中鉻或其他過渡金屬的化學狀態的分析。
聲明:
“實現XANES分析的方法和設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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