本發明提供了一種納米材料單晶應力場耦合電化學測試裝置及方法,解決現有測試方法無法實現二維材料定量應變下的電化學測試問題。測試裝置包括光學顯微鏡、電化學工作站、電化學原位測試單元和應力施加單元;電化學原位測試單元包括自上而下配合安裝的測試主體以及測試底座;應力施加單元包括探針、探針夾持組件以及三維移動平臺;探針通過探針夾持組件豎直安裝在三維移動平臺上,探針在三維移動平臺的調節下,對置于測試底座上的柔性襯底施加機械應力,使待測納米材料發生應變;光學顯微鏡通過小孔測量待測納米材料產生的應變量;電化學工作站測量應變量下測量待測納米材料的電化學性能。
聲明:
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