本發明提供了一種具有非拋棄式參比電極結構的電化學檢測芯片,本發明所述芯片將芯片上參比電極同電化學反應池隔離開來,中間通過金屬或非金屬條帶相連。金屬或非金屬條帶同芯片結構的微納縫隙進行離子交換以及金屬或非金屬條帶的電位傳導的共同作用,維持參比電極的正常工作。利用本發明的技術方案,可以解決常規電化學芯片參比電極測試時直接同待測溶液接觸,從而造成電化學檢測體系部分受限且參比電極的穩定性較差等問題,本發明所述芯片可以提高芯片上參比電極體系的穩定性,延長了其壽命,使得電化學檢測芯片能夠適應較長時間的使用。
聲明:
“具有非拋棄式參比電極結構的電化學檢測芯片” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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