本發明公開了一種基于光透射結果分析的芯片比色檢測方法。該方法包括:將反應劑溶液滴加在芯片載體上,得到檢測芯片;按濃度梯度配制不同濃度的標準檢測物溶液;將不同濃度的標準檢測物溶液分別滴加在檢測芯片的檢測區域上,顯色,測量透射光,將透射光值與標準檢測物溶液的濃度值之間的關系建立標準曲線,得出對應的標準曲線方程;將待測樣品溶液滴加在檢測芯片的檢測區域上,顯色,測量透射光,數值化讀取待測樣品的透射光值,將待測樣品的透射光值數據代入標準曲線方程中,計算得到所述待測樣品的濃度。該方法步驟簡單,易于操作,能改善由于顏色強度的飽和問題造成高濃度檢測物的分析結果不準確問題,可廣泛應用于生物、化學等檢測領域。
聲明:
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