本發明公開了一種XRF分析試樣化學成分的方法及其工作曲線的制作方法,其中工作曲線的制作方法包括如下步驟:制備標準樣品的分析樣片;采用相同的儀器工作條件分別測量各種類標準樣品分析樣片中各化學成分X射線熒光強度;其中每一種類標準樣品測量的化學成分包括待檢測樣品中全部的可測定化學成分;分別確定各種類樣品中各化學成分對應的工作曲線的斜率和截距:通過對標準樣品中某一化學成分的已知質量百分含量與測量得到的該化學成分的熒光強度按設定的工作曲線表達式進行回歸分析,從而確定該種類標準樣品中該化學成分對應的工作曲線的斜率和截距。本發明提高了XRF分析的準確性和操作方便性。
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“XRF分析試樣化學成分的方法及其工作曲線的制作方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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