本發明提供一種測試AD性能的方法,其過程如下:1)兩臺矢量信號源、PC機、合路器和被測接收機;將兩臺矢量信號源的輸出端與合路器的輸入端相連,合路器的輸出端與被測接收機相連,被測接收機與PC機相連。2)計算輸入二階互調截點值為IIP2=2Pin?Ps(dBm);3)計算三階互調截點值為4)計算路間隔離度,其公式為:ACI=Pw0?Pwn(dBm)。本方法可以方便計算AD芯片采集模擬信號的二、三階互調截點、路間隔離度;使得短波超短波等設備便于性能測試;具有結構簡單、使用方便、測試數據準確等優點。
聲明:
“一種測試AD性能的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)