本發明提供的RFID標簽性能的檢測方法,包括進料工序、信息寫入工序、檢測篩選工序及出料工序。檢測時,先將若干張裝RFID標簽堆疊放置在進料單元,再由該進料單元送入傳送單元,而該傳送單元會將張裝RFID標簽送至信息寫入單元以寫入信息,接著,傳送單元再將張裝RFID標簽送至檢測篩選單元以篩選不良品,完后,傳送單元會將合格的張裝RFID標簽送至出料倉口,整個過程為自動化操作,有效解決了現有技術中利用人工對RFID標簽性能進行檢測的方式效率低下、勞動強度大及成本高的問題。
聲明:
“RFID標簽性能的檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)