本申請公開了一種磁鐵片檢測方法、系統、設備及計算機可讀存儲介質,獲取待檢測磁鐵片的目標圖像;獲取預設的待檢測區域模板;基于間接平差方法,在目標圖像中確定與待檢測區域模板對應的待檢測區域;計算待檢測區域的灰度值信息;基于灰度值信息及預設閾值,確定待檢測磁鐵片的檢測結果。本申請中,通過間接平差方法可以快速在目標圖像中確定與待檢測區域模板對應的待檢測區域,并且只需計算待檢測區域的灰度值信息,便可以基于灰度值信息及預設閾值,確定待檢測磁鐵片的檢測結果,快速對待檢測磁鐵片進行性能檢測。本申請提供的一種磁鐵片檢測系統、設備及計算機可讀存儲介質也解決了相應技術問題。
聲明:
“一種磁鐵片檢測方法、系統、設備及計算機可讀存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)