本發明公開了一種用于極限環境光源分析采集的設備,涉及光電性能檢測技術領域。本發明包括極限環境檢測搭載結構和光源數據分析采集結構,極限環境檢測搭載結構內側的一端固定連接有光源數據分析采集結構,極限環境檢測搭載結構包括動導輸出成型結構。本發明通過極限環境檢測搭載結構的設計在完全無光,充滿強光、極高濕度、極低濕度和極高溫度的極限環境中對光源的使用性能進行檢測分析,且通過光數據分析采集結構的設計,使得裝置便于完成對光在不同角度下和不同濾光板下的照射強度的數據分析采集,以及對集中照射溫度和分散照射溫度的數據分析和采集,大大提高了光源數據采集的便捷性和穩定性。
聲明:
“一種用于極限環境光源分析采集的設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)