本發明公開了一種集成電路IO特性智能測試儀,其特點是該測試儀由單片機、可調電源模塊、LCD觸摸顯示模塊、繼電器模塊和電流檢測模塊組成,將待檢測芯片串接在繼電器模塊和電流檢測模塊之間,對芯片的ESD二極管進行性能檢測,所述單片機與可調電源模塊、LCD觸摸顯示模塊、繼電器模塊和電流檢測模塊連接;所述電流檢測模塊與可調電源模塊連接;所述繼電器模塊采用117路繼電器連接八個4轉16譯碼器。本發明與現有技術相比具有測試誤差小,防止信號串擾,有效避免電源倒灌,測試方便,降低測試過程中誤操作對芯片造成的危害。
聲明:
“一種集成電路IO特性智能測試儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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