本發明涉及電子器件制造領域,特別是涉及一種電子元件的檢測設備。一種電子元件的檢測設備,包括機架、上料機構、撕膜機構、搬運機構、多個檢測機構、收料機構、第一翻轉模塊及第二翻轉模塊,上料機構內承載有待測的工件,撕膜機構連接于所述機架并設于所述上料機構的一端,用于撕下工件上的薄膜,多個檢測機構分別設于機架上,搬運機構能夠將完成撕膜的工件依次搬運至各個檢測機構進行性能檢測,收料機構設于檢測機構的一側并,搬運機構將完成檢測的工件搬運至收料機構內。本發明的優點在于:實現電子元件的性能檢測,實現自動化檢測,提高效率。
聲明:
“電子元件的檢測設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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