本發明涉及一種函數性能檢測方法、系統及可讀介質的技術方案,包括:響應于檢測請求,創建檢測接口;通過檢測接口對函數進行檢測,得到檢測結果;對接收的性能數據文件進行解析,得到格式化數據;對格式化數據進行可視化處理,得到函數可視化檢測結果。本發明的技術方案獲取各個腳本函數的執行耗時并通過可視化進行展示,對函數的調用和性能進行直觀展示,提高了服務器的故障分析效率。
聲明:
“函數性能檢測方法、系統及可讀存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)