本實用新型提供一種半導體照明發熱性能檢測裝置,包括檢測箱,所述檢測箱內設置有安裝座,所述安裝座旁設置有供電電源,通過供電電源為安裝座進行供電,所述檢測箱內設置有溫度傳感器,通過溫度傳感器對檢測箱內的溫度變化進行檢測,所述檢測箱外部設置有顯示屏,所述顯示屏與溫度傳感器相關聯,將溫度傳感器檢測的溫度顯示在顯示屏上。通過安裝座和供電電源對半導體照明進行照明模擬,并在半導體照明工作時由溫度傳感器對檢測箱內的溫度變化進行檢測,完成半導體照明發熱性能的檢測工作,減少人工的工作量,并且通過冷卻風機對檢測箱內的溫度進行回溫,避免前后兩側檢測結果互相干擾。
聲明:
“半導體照明發熱性能檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)