本發明公開了一種微波暗室場地性能檢測用調節支架及檢測系統,包括水平支架,水平支架上設置有水平軌道,水平軌道上安裝有可沿其水平移動的水平托盤;水平托盤上安裝有一維方位轉臺,一維方位轉臺上設置有豎直支架;豎直支架上安裝有升降機構,升降機構包括升降帶,升降帶上安裝有用于安裝微波信號接收裝置的安裝臺;本發明通過水平托盤可帶動微波信號接收裝置在同一水平面上橫向移動,通過一維方位轉臺可實現微波信號接收裝置的方位旋轉,通過升降機構可以實現微波信號接收裝置高度的調節,進而可以實現微波信號接收裝置在微波暗室空間內不同位置處接收微波信號,提升微波暗室的檢測效率。
聲明:
“一種微波暗室場地性能檢測用調節支架及檢測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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