本發明涉及電子加工領域,特別涉及一種發光二極管性能檢測系統及檢測方法,包括放置箱和檢測架,放置箱的頂部開設有第一插槽,第一插槽內插設有旋轉盤,旋轉盤內對稱開設有通槽,通槽均與放置槽對稱設置并相連通,旋轉盤的外側開設有齒槽,放置箱的一側固定連接有旋轉電機,旋轉電機的輸出端固定連接有齒輪,齒輪與齒槽對稱設置并相嚙合,旋轉盤的頂部設有限位塊,限位塊內開設有限位槽,限位塊的底部對稱固定連接有第一伸縮桿,第一伸縮桿的一端均固定連接在放置箱的頂部。本發明可以快速的對發光二極管進行批量檢測,提高了檢測效率,同時對需要檢測的發光二極管進行整理碼放。進一步提高了檢測效率,適合推廣。
聲明:
“一種發光二極管性能檢測系統及檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)