本實用新型公開了一種半導體芯片用的電性能檢測設備,包括底座,所述底座的頂部對稱固定安裝有兩個輸送組件,單個所述輸送組件的外表面安裝有電機,兩個所述輸送組件之間共同安裝有傳動軸,兩個所述輸送組件均安裝有多個連接件,相鄰兩個所述連接件之間共同安裝有放置槽,所述底座的頂部一側固定連接有支架,所述支架的頂部安裝有伸縮桿,所述伸縮桿的活動端固定安裝有檢測板。本實用新型中,整體采用流水線式設計,對半導體芯片的檢測更為迅速,能夠滿足一些大公司的檢測需求;再通過設置的連接件和可拆卸的轉換板,可以根據不同型號規格的半導體芯片更換相應的放置槽、轉換板和探針板,從而增加整體適用性。
聲明:
“一種半導體芯片用的電性能檢測設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)