本申請實施例公開了一種光開關和基于光開關的光性能檢測方法,光檢測裝置集成在光開關內部,可以復用光開關中已有的裝置對分波后的光信號進行光性能檢測,便于實現系統的小型化。該光開關包括至少一個第一端口、至少一個第二端口、第一波分復用WDM裝置、分光器、光檢測裝置和光交換裝置。第一端口用于將輸入的第一光信號傳輸至第一WDM裝置,第一光信號為多波長信號。第一WDM裝置用于對第一光信號進行分波。分光器用于對分波后的第一光信號進行分光得到第一子信號和第二子信號。光交換裝置用于對第一子信號進行光交換。第二端口用于輸出光交換后的第一子信號。光檢測裝置用于對第二子信號進行光性能檢測。
聲明:
“一種光開關和基于光開關的光性能檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)