本發明提供一種存儲芯片的性能檢測方法和系統,其中,方法包括:步驟S1:獲取存儲芯片的標識信息;步驟S2:基于標識信息確定檢測方案;步驟S3:基于檢測方案對存儲芯片進行性能檢測,輸出性能檢測報告;其中,標識信息包括:材質、型號、容量、存儲速度、工作溫度、響應時間其中一種或多種結合。本發明的存儲芯片的性能檢測方法,根據存儲芯片的標識信息采用針對的檢測方案,實現全方位的性能檢測。
聲明:
“一種存儲芯片的性能檢測方法和系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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