提供一種在鋰離子電池的制造工序中,以非接觸的方式進行膜的膜厚檢查的技術,該膜包括形成于集電體的活性物質材料。膜厚測量裝置(1)具有:太赫茲波照射部(10),向樣品(9)照射太赫茲波(LT1);反射波檢測部(30A),具有用于檢測被樣品(9)反射的太赫茲波(LT1)的反射波(LT3)的光傳導開關(34A)。膜厚測量裝置(1)具有:時間差獲取模塊(509),獲取由反射波檢測部(30A)檢測出的反射波(LT3)中的表面反射波(LT31)與界面反射波(LT32)到達光傳導開關(34A)的時間差(Δt),該表面反射波(LT31)是被樣品(9)的活性物質膜(91)的表面反射的波,該界面反射波(LT32)是被樣品(9)的活性物質膜(91)與集電體(93)的界面反射的波;膜厚計算部(511),基于時間差(Δt)及活性物質膜(91)的折射率(nS)來計算活性物質膜(91)的膜厚(d)。
聲明:
“膜厚測量裝置及膜厚測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)