本發明提供了一種深反射地震剖面隨機介質參數確定方法、裝置和電子設備,涉及地質勘探的技術領域,在獲取到深反射地震剖面數據之后,首先將其拆分成多個子地震剖面數據,然后基于現代譜分析方法確定目標子地震剖面數據的自相關函數,進而求解目標子地震剖面數據的隨機介質參數,最后根據所有子地震剖面數據的隨機介質參數確定深反射地震剖面數據的隨機介質參數。本發明先將深反射地震剖面數據拆分成相對較短的數據,然后采用現代譜分析方法求解短數據的自相關函數,其計算誤差遠小于直接進行自相關函數計算的方法,進而使得求解得到的隨機介質參數更精確,有效的緩解了現有技術中的深反射地震剖面隨機介質參數確定方法存在的準確性差的技術問題。
聲明:
“深反射地震剖面隨機介質參數確定方法、裝置和電子設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)