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            > CSAMT縱向分辨率判定和一維真電阻率精細反演方法

            CSAMT縱向分辨率判定和一維真電阻率精細反演方法

            1104   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
            2023-03-06 00:30:04
            本發明公開了一種CSAMT縱向分辨率判定和一維真電阻率精細反演方法,根據兩頻點間的線性差值和中間點的誤差分析來判別表示縱向分辨率的頻點數上限,將地質體的結構、埋深、與圍巖電阻率的差異,電磁噪聲、接收機靈敏度等因素納入頻點和縱向分辨率的關系中,合理控制頻點密度;采用頻點數上限作為一維反演地層層數上限的反演結果,形成精細的電阻率-深度剖面。達到了精細勘探的目的。本發明可推廣應用于高密度電阻率、大地電磁和時間域瞬變電磁等電和電磁法勘探中。
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            “CSAMT縱向分辨率判定和一維真電阻率精細反演方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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