本發明提供了一種掃描探針顯微鏡中的探針。該探針由探針臂與針尖組成,針尖由針尖本體,以及依次位于針尖本體表面的薄膜一、薄膜二、薄膜三組成;薄膜一具有導電性;薄膜二具有電絕緣性;薄膜三具有磁性與導電性,或者薄膜三具有導電性;薄膜一與薄膜三的材料不同,并且薄膜一、薄膜二和薄膜三構成熱電偶結構。利用該探針能夠對多功能材料的磁、電、熱多參量進行原位表征,從而能夠原位、直觀地研究材料的電-熱、磁-熱,以及磁-電-熱之間的耦合規律與機制。
聲明:
“掃描探針顯微鏡中的探針、其制備方法及探測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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