本發明公開了一種紫外-可見光雙光路成像探測系統,包括光學鏡頭、分光片、可見光CCD、紫外掃描靶面、Y/Z雙軸向移動掃描機構和后端信號處理裝置;光學鏡頭搜集前景,并通過分光片將同一前景分別投射在可見光CCD和紫外掃描靶面上;Y/Z雙軸向移動掃描機構對紫外掃描靶面進行掃描;可見光CCD和Y/Z雙軸向移動掃描機構均與后端信號處理裝置電連接。本發明相較于目前市場上各類紫外探測儀來說,具有極大的成本優勢,在體積重量等機體規格上,也都優于市場上的產品??纱罅坎荚O從而實現全天候的在線式檢測監控??蓮V泛應用于電力、礦山、石油、重工業、防火、檢測服務、公共事業等行業。
聲明:
“紫外-可見光雙光路成像探測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)