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本發明公開了一種利用光學干涉法來測量反射光強的光譜吸收法來無損檢測物質濃度的方法及裝置。應用光學干涉法探測光線射入物質載體后的反射信號,通過分析不同波長下光線經被測物質及其載體吸收后信號的變化來間接檢測該物質的濃度,最終達到無損監測的目的。實現該檢測方法的裝置采用多個不同波長的寬帶光源、麥克爾遜干涉儀、光探測器和信號處理及計算裝置。本發明具有無損、簡便以及高靈敏度的特點。
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2025年07月16日 ~ 18日 
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