XRF能量色散熒光X射線熒光光譜分析儀

工作原理

EDX-6000采用能量色散X射線熒光（EDXRF）技術，通過X射線管激發樣品中的原子，使其外層電子躍遷并釋放特征X射線。高分辨率半導體探測器（如SDD）捕捉這些特征X射線的能量與強度，結合標準曲線與算法模型，對元素種類及含量進行定量分析。設備內置智能校正系統，可自動修正基體效應與矩陣干擾，確保檢測結果準確可靠。

應用范圍

該設備廣泛適用于金屬材料成分分析（如合金牌號鑒定）、土壤與水體重金屬檢測、礦石品位鑒定、水泥原料成分控制、電子產品RoHS指令符合性篩查等領域。典型應用包括：鋼鐵中Si/Mn/P/S含量測定、土壤中Pb/Cd/As污染評估、陶瓷原料成分分析、鍍層厚度與元素分布檢測等。

產品技術參數

元素檢測范圍：Na（11）~ U（92）

分析時間：30秒~300秒（可調）

檢測限：1ppm~100ppm（視元素而定）

穩定性：RSD≤0.1%（24小時連續測試）

樣品形態：支持固體、粉末、液體（需配套樣品杯）

軟件功能：自動定性定量分析、譜圖解析、數據庫管理（支持自定義標準曲線）

產品特點

多元素同步分析：可同時檢測數十種元素，覆蓋主量、微量及痕量成分，提升檢測效率。

無損快速檢測：無需制樣或化學處理，直接對樣品進行非破壞性分析，單次測試時間最短30秒。

智能軟件系統：內置材料數據庫與自動校正算法，支持一鍵式操作，降低技術門檻。

安全防護設計：符合GB/T 25480-2010輻射安全標準，配備多重屏蔽與聯鎖裝置，保障操作人員安全。

靈活擴展性：可選配自動進樣器、真空腔體（適用于輕元素檢測）及小樣品適配器，適配不同檢測需求。