落地式X射線衍射儀

工作原理

設備基于布拉格衍射定律（nλ=2d sinθ）：X射線管發射特征波長（如Cu-Kα，λ=1.5406?）的X射線，照射樣品后產生衍射光束。高精度測角儀（θ-θ幾何）旋轉樣品與探測器，記錄不同角度（2θ）的衍射峰位置與強度。通過對比標準PDF卡片數據庫，解析樣品晶面間距（d值）、晶粒尺寸及相組成，實現物質結構的精準定性定量分析。

應用范圍

適用于材料科學（金屬/陶瓷/高分子材料相分析）、地質學（礦物成分鑒定）、制藥（藥物晶型控制）、半導體（外延層厚度測量）及新能源（鋰電池正極材料結構表征）。尤其適合需要滿足ASTM E816、ISO 4967等國際標準的場景，助力科研突破與產品質量控制。

產品技術參數

X射線源：Cu靶X射線管（功率≤3kW，可升級為Co/Mo靶）

測角儀精度：2θ重復性≤0.0001°，分辨率0.001°

探測器：LYNXEYE XE高速能量色散探測器（1.9°開口，信噪比≥5000:1）

掃描速度：最高1000°/min（快速掃描模式）

溫度控制：樣品臺支持-196℃~1600℃（可選配高溫/低溫附件）

軟件：DIFFRAC.SUITE（集成相位鑒定、晶粒尺寸計算、殘余應力分析模塊）

電源：AC220V±10% 50Hz，功耗≤3.5kW

尺寸/重量：1800×1200×2200mm / 1500kg（含主機與控制柜）

產品特點

高精度與穩定性：采用θ-θ幾何測角儀與閉環伺服電機，2θ重復性≤0.0001°，長期運行零點漂移≤0.001°/天，確保數據可靠性。

多功能與擴展性：支持粉末衍射、薄膜測量、殘余應力分析等多種模式；可選配原位高溫/低溫附件、微區衍射模塊（最小光斑≤0.1mm）。

智能化操作：DIFFRAC.SUITE軟件集成自動相位鑒定與數據報告生成功能，支持與ICDD PDF-4數據庫無縫對接；一鍵式校準與故障診斷降低操作門檻。

耐用與低維護設計：全金屬光路結構，防振動設計適應實驗室環境；X射線管壽命≥5000小時，自動衰減功能延長關鍵部件使用周期。

合規與認證：符合CE、RoHS及中國計量認證（CMA）要求，檢測報告具備法律效力，適配全球科研與工業標準。

用戶友好界面：15英寸觸控屏集成中文操作界面，支持遠程控制與數據云存儲；模塊化設計允許用戶根據需求升級配置（如增加紋理分析功能）。