工作原理
PSA系列采用多波長激光光源(覆蓋可見光至近紅外波段),當激光束穿過分散的顆粒樣品時,顆粒對光產生散射,散射光強度與粒徑大小呈函數關系。儀器通過傅里葉透鏡將不同角度的散射光匯聚至高分辨率探測器陣列,實時采集全角度散射信號?;诿资仙⑸淅碚?,結合智能反演算法(如非負最小二乘法),對散射數據進行迭代計算,最終還原出顆粒的粒徑分布(體積分布或數量分布)。獨特的光路設計可消除多次散射干擾,確保高濃度樣品的測量準確性。
應用范圍
覆蓋納米材料研發、制藥工藝控制、涂料油墨生產、礦業選礦及環境顆粒物監測等領域。在納米領域,用于表征金屬氧化物、量子點及聚合物納米顆粒的粒徑均勻性,指導合成工藝優化;制藥行業中分析原料藥、輔料及制劑的粒度分布,確保藥物溶解速率與生物利用度;涂料工業檢測顏料、填料及乳液的顆粒尺寸,控制產品光澤度與穩定性;礦業領域測定礦石磨礦產品的粒度組成,優化選礦流程;環境監測中分析大氣PM10/PM2.5或水體懸浮物的粒徑分布,評估污染來源與遷移規律。
技術參數
粒徑測量范圍0.01-3000μm(依型號而定),重復性RSD<1%,準確性符合ISO 13320標準;支持濕法(水/有機溶劑)與干法(空氣/氮氣)分散,樣品濃度范圍0.001%-40%體積濃度;配備多波長激光器(如405nm、635nm、780nm)與高動態范圍探測器,適應不同粒徑與吸光性樣品;軟件集成ISO、ASTM等20余種標準算法,支持自定義報告模板與數據審計追蹤功能。
產品特點
全量程測量能力覆蓋納米至毫米級顆粒,單次測試僅需10-30秒;智能光路設計與反演算法消除多次散射與背景噪聲,提升高濃度樣品測量精度;用戶友好型界面支持一鍵操作、實時數據可視化與多語言切換;模塊化設計可擴展超聲分散、循環進樣或在線監測功能,滿足實驗室與工業現場的多樣化需求。PSA系列以“精準、高效、靈活”為核心優勢,成為顆粒表征領域的標桿設備。