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工作原理
IF-Profiler采用垂直掃描白光干涉技術：通過分光鏡將寬帶光源分為參考光與測量光，后者經顯微物鏡聚焦至被測表面后反射，與參考光在CCD相機傳感器上形成干涉條紋；系統驅動壓電陶瓷（PZT）帶動物鏡沿光軸方向進行納米級步進掃描（步進精度1nm），同步采集不同高度位置的干涉圖像；運用相移干涉算法與頻域分析技術，從干涉信號中提取表面高度信息，重建三維形貌圖（垂直分辨率達0.01nm）；結合智能去噪算法與形貌濾波器，自動分離表面波紋度與粗糙度成分，支持ISO 25178、GB/T 3505等國際國內標準參數計算。
應用范圍
適配金屬、陶瓷、聚合物、半導體及復合材料等多種材質表面，覆蓋多行業表面質量檢測需求：半導體領域（硅晶圓表面粗糙度Ra≤0.1nm驗證、光刻膠涂覆均勻性分析）、精密光學（激光晶體端面拋光質量篩查、光學薄膜表面缺陷檢測）、生物醫療（人工關節羥基磷灰石涂層厚度測量、牙科種植體表面處理工藝評估）、汽車制造（發動機缸體珩磨網紋角度檢測、曲軸軸頸表面粗糙度一致性控制）及3C電子（手機玻璃蓋板AF涂層耐磨性測試、陶瓷背板表面光澤度分析）等。
技術參數
垂直測量范圍0.1μm-10mm，垂直分辨率0.01nm，橫向分辨率0.5μm；掃描速度10μm/s-2mm/s可調，支持高速動態測量模式（最高500μm/s）；數據輸出兼容ASCII、TXT、XML及專業分析軟件格式（MountainsMap、Gwyddion）；設備重量18kg，尺寸450mm×350mm×500mm，工作溫度15-35℃，濕度≤70%RH；配備5MP高分辨率CCD相機與10×/20×/50×可更換物鏡，支持傾斜樣品測量（最大傾斜角±15°）。
產品特點
非接觸式測量，避免觸針劃傷軟質表面；智能軟件內置AI形貌分類算法，可自動識別劃痕、橘皮、孔洞等缺陷類型；提供一鍵式標準參數計算（Ra、Rz、Rq等20+參數）與自定義濾波器設置功能；支持與機器人聯動實現自動化生產線集成；通過CNAS實驗室認可與ISO 17025計量認證，數據可追溯至國際計量基準。IF-Profiler以“精準、高效、智能”的特性，重新定義表面粗糙度檢測技術新標準。
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湖南 - 長沙
2025年08月07日 ~ 09日
