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工作原理
A650采用能量色散型X射線熒光光譜（ED-XRF）技術。儀器內置微型X射線管，通過高壓激發產生高能X射線，照射樣品表面后，樣品中的原子核外電子受激發躍遷，釋放出具有特征能量的X射線熒光。高分辨率硅漂移探測器（SDD）捕獲這些熒光信號，經多道分析器（MCA）轉換為數字信號，再通過智能算法解析能量譜線，最終輸出元素種類及含量。整個過程無需制樣、無化學污染，單次檢測時間僅需3-10秒。
應用范圍
金屬加工：來料檢驗、生產過程成分監控、不合格品篩查；
廢舊回收：廢舊金屬分類、貴金屬含量快速評估；
航空航天：高溫合金、鈦合金等關鍵材料成分驗證；
電力石化：管道、閥門等設備材質鑒定及腐蝕分析；
珠寶文博：貴金屬飾品純度檢測、文物金屬成分溯源。
技術參數
元素檢測范圍：Mg（12）~U（92）；
檢測限：10-500ppm（視元素及基體而定）；
管電壓/電流：5-50kV/0-100μA可調；
探測器：高性能SDD探測器，分辨率＜145eV；
分析時間：3-300秒（用戶可自定義）；
防護等級：IP54（防塵防水），適應惡劣環境。
產品特點
便攜高效：整機重量僅1.5kg，配備可充電鋰電池，支持8小時連續作業；
智能操作：5英寸觸控屏，內置合金牌號庫（覆蓋ASTM、GB等標準），一鍵匹配材質；
精準可靠：采用動態校準技術，自動補償基體效應，重復性誤差＜0.05%；
安全耐用：三級輻射屏蔽設計，通過CE/RoHS認證，適應-10℃~50℃工作溫度。
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湖南 - 長沙
2025年08月07日 ~ 09日
