工作原理
設備采用EDXRF技術:X射線管(銠靶或鎢靶)發射高能X射線(5-50keV),激發銅合金樣品表面原子產生特征X射線熒光;高分辨率硅漂移探測器(SDD)接收熒光信號,通過多道分析器(MCA)將能量轉換為電脈沖信號;系統內置智能算法(FP法+經驗系數法)對信號進行解譜,結合標準樣品數據庫,自動計算各元素含量(ppm級精度)及占比;檢測過程無需制樣或化學處理,單次測量時間僅需10-60秒,支持點測與面掃描分析。
應用范圍
適用于銅合金材料成分分析及質量控制,包括:
銅材加工:黃銅(H62/H65)、青銅(QSn6.5-0.1)、白銅(B10/B30)等牌號快速鑒定;
電子制造:連接器、端子、引線框架的銅基材料成分驗證;
五金鑄造:閥門、管件、鎖具的銅合金雜質含量檢測;
回收行業:廢舊銅材分選與成分復核;
科研檢測:金屬材料研發中的元素配比優化與失效分析。
產品技術參數
檢測元素范圍:鎂(Mg)至鈾(U),覆蓋銅合金全元素;
含量檢測范圍:0.001%-100%(主量元素精度±0.1%,微量元素±1ppm);
重復性:±0.05%(標準樣品);
準確性:±0.1%(與化學法對比);
X射線管電壓:5-50kV(可調);
管電流:0-1000μA(可調);
探測器類型:硅漂移探測器(SDD),分辨率≤135eV;
測量時間:10-60秒/點;
樣品倉尺寸:直徑200mm×高80mm(支持異形件檢測);
設備尺寸:長×寬×高為520mm×420mm×580mm;
總重量:65kg。
產品特點
無損快速檢測:無需破壞樣品,10秒完成主量元素分析,60秒實現全元素掃描;
高精度智能分析:SDD探測器+AI解譜算法,微量元素檢出限低至0.5ppm;
多模式適配:支持點測、線掃描、面映射分析,滿足不同檢測需求;
操作便捷:7英寸觸摸屏+一鍵式自動校準,新手5分鐘即可上手;
安全環保:三重輻射防護(鉛玻璃屏蔽、互鎖裝置、實時劑量監測),符合CE/RoHS標準。