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工作原理
EDX2000HX采用高壓電源驅動X光管產生初級X射線，經準直器聚焦后照射樣品表面，激發元素內層電子躍遷并釋放特征X射線熒光。高分辨率Si-PIN探測器接收熒光信號，經信號檢測電路放大與數模轉換后，由內置軟件解析光譜特征峰強度與能量。通過多參數線性回歸方法，儀器可自動修正元素間的吸收與排斥效應，結合相互獨立的基體效應校正模型，確保復雜基材檢測的準確性。分析結果實時顯示于計算機界面，并支持PDF/EXCEL格式報告導出。
應用范圍
金屬冶煉：檢測銅合金、鋅合金、不銹鋼等材料中的主次元素含量，優化合金配比。
機械制造：分析零部件的成分均勻性，保障產品質量穩定性。
電子元器件：驗證焊料、鍍層材料的無鉛化（RoHS）合規性。
環境監測：篩查土壤、廢水中的重金屬污染元素（如Pb、Cd、Cr）。
礦產勘探：快速評估礦石品位，指導選礦工藝。
技術參數
元素分析范圍：硫（S）至鈾（U），支持30種以上元素同步分析。
檢出限：最低可達ppm級（如Cd、Pb等RoHS指令元素）。
分析精度：≤0.1%（含量≥96%的主元素）。
能量分辨率：160±5eV，確保輕元素（如Mg、Al）檢測靈敏度。
測量時間：60秒至200秒，支持快速批量檢測。
樣品腔尺寸：439mm×300mm×50mm，適應大尺寸樣品。
防護等級：符合IEC 61010安全標準，配備射線防護裝置。
產品特點
高效穩定：新一代高壓電源與X光管組合，提升測試效率與設備可靠性。
智能升級：無需硬件改造即可擴展分析元素庫，適應未來檢測需求。
操作便捷：一鍵式分析流程，支持多語言界面與自定義程序。
精準定位：精細手動移動平臺與高清攝像頭，實現微小區域精準檢測。
數據管理：內置32GB存儲器，支持遠程數據傳輸與MES系統對接。
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湖南 - 長沙
2025年08月07日 ~ 09日
