工作原理
4XC顯微鏡采用無限遠光學系統,通過高數值孔徑(NA)平場消色差物鏡(5X/10X/40X/100X可選)與可調亮度柯勒照明系統,將樣品表面的微觀細節放大并投射至目鏡或數碼接口。其核心為三目觀察頭設計,支持100%人眼觀察與0%/100%數碼成像自由切換,可外接高清工業相機(如500萬像素CMOS傳感器),實時捕捉金相圖像并傳輸至計算機。配合專業金相分析軟件,可對晶粒度、夾雜物、相組成等參數進行自動測量與統計,輸出可視化報告。
應用范圍
金屬材料分析:鋼鐵、鋁合金、銅合金等材料的晶粒度評級、非金屬夾雜物檢測、熱處理效果評估;
失效分析:斷口形貌觀察、裂紋擴展路徑分析、腐蝕產物成分鑒定;
質量控制:鑄造件、鍛造件、焊接件的微觀缺陷檢測(如疏松、偏析);
科研教學:材料制備工藝優化、金相組織演變研究、實驗教學演示與圖像采集。
技術參數
光學系統:無限遠校正光學系統,齊焦距離45mm
物鏡配置:平場消色差物鏡(5X/NA 0.12、10X/NA 0.25、40X/NA 0.65、100X油鏡/NA 1.25)
目鏡:高眼點寬視野目鏡(10X/Φ20mm,帶視度調節)
照明系統:6V/30W鹵素燈(亮度連續可調),柯勒照明模式
數碼接口:C-Mount標準接口(適配2/3英寸傳感器),支持USB3.0傳輸
載物臺:雙層機械載物臺(尺寸180mm×150mm,移動范圍75mm×50mm,游標精度0.1mm)
調焦機構:同軸粗微調焦(粗調行程25mm,微調精度0.002mm)
產品特點
高清晰成像:平場消色差物鏡與無限遠光路設計,消除像差與色差,確保圖像邊緣清晰銳利。
智能分析功能:配套軟件支持晶粒度自動評級(ASTM E112標準)、夾雜物分類統計、二值化圖像處理等功能。
人性化操作:三目頭30°傾斜設計,緩解長時間觀察疲勞;載物臺X/Y向鎖定功能,防止樣品意外移動。
耐用可靠:全金屬機身與防霉處理光學部件,適應實驗室高濕度環境;LED升級選項(可選配)提升光源壽命至5萬小時。
模塊化擴展:支持偏光裝置、暗場附件、微分干涉相襯(DIC)模塊的加裝,滿足多樣化分析需求。